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김지현.png
전자공학부 학부과정 김지현은 “Impact of
Non-ideal Reliability Characteristics of SiOx p-Bit for Complex Optimization
Problem Solver”라는 제목의 논문이 반도체 신뢰성 분야 가장 권위 있는 국제학술대회인
IEEE IRPS (International Reliability Physics Symposium)에 선정되어 2025년 3월 미국 몬터레이에서 구두발표 예정이다.
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