전자전기공학부 김기한, 김남주, 김영권 박사과정생 (지도교수 장병철)은 Cell Press지에서 발간하는 전자소자 분과 국제 저명 학술지인 Device (IF: 18.5) 저널에 “Material engineering to enhance reliability in 3D NAND flash memory” 제목으로 리뷰 논문을 게재하였다. 현재까지 개발되어 온 3D NAND flash memory 소자의 신뢰성 개선을 위한 소자 및 소자 개발 history를 총 망라한 리뷰논문으로 게재하였다. 해당 리뷰 논문은 3D NAND flash 메모리 cell 소자의 신뢰성 개선을 통한 지속적인 집적도 향상을 위해 기존 연구를 바탕으로 향후 연구의 새로운 방향을 산업계 뿐만 아니라 학계에 제시해 줄 것으로 기대된다.

논문링크: https://dx.doi.org/10.1016/j.device.2024.100682